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Titre de la thèse :  "Atomic Force Microscopy Based Micro/Nanomanipulation".

 

La soutenance aura lieu : 

le vendredi 16 décembre 2011 à 10h

UPMC - Campus Jussieu, 4 Place Jussieu - 75005 Paris
Salle 211de l'UFR d'Ingénierie (Tour 55-65, 2ème étage)

 

Jury:

Rapporteurs:
Prof. Dr.-Ing. habil Sergej Fatikow, AMiR, Oldenburg University, Allemagne
Dr. Michaël Gauthier, HDR, FEMTO-ST Institute, Besançon, France

Examinateurs:
Dr. Regis Marchiano, Professeur, Institut Jean le Rond d'Alembert, UPMC, Paris, France
Dr. Luc Chassagne, Professeur, Université de Versailles Saint-Quentin, France
Dr. Jérôme Polesel, Chercheur, CEA SACLAY, Gif-sur-Yvette, France

Directeur de Thèse:
Dr. Stéphane Régnier, Professeur, ISIR, UPMC, Paris, France


Résumé:

A l’échelle nanoscopique, un problème scientifique fondamental réside dans la difficulté de manipuler de façon interactive et répétable un nanoobjet. Cette difficulté est un frein majeur pour des applications comme les nanotransistors, les nanosystèmes ou les futurs NEMS (Nano Electro Mechanical System). Ces dispositifs émergents sont ainsi ralentis dans leur cadre expérimental. Cette thèse s’inscrit dans la continuité des recherches développées au sein de l’équipe de microrobotique de l'ISIR. Elle se focalise sur l'exploitation de capteurs d'effort pour la manipulation contrôlée à plusieurs doigts actifs.

Le microscope à force atomique est utilisé pour ses propriétés de capteur d'effort. Dans un premier temps, un préhenseur composé de deux doigts indépendants avec mesures des forces d'interaction a été conçue. Avec ce système original, des micromanipulations en trois dimensions de microsphères ont été réalisées avec succès dans l'air, en mesurant de façon continue les efforts d'interaction. Ce système a aussi été utilisé pour saisir et déposer des nanofils afin de former des nanocroix, ces dernières étant des nanostructures émergentes pour la fabrication, par jonctions, de nanotransistors.  Par la suite, des oscillateurs en quartz ont été utilisés pour la caractérisation de nanostructures, avec retour d'effort dynamique. Le comportement non-linéaire en raideur de nanohélices lors de l'élongation a été caractérisé pour la première fois sur la totalité de la plage. Enfin, des sondes en quartz de haute fréquence ont été exploitées pour augmenter la vitesse d'acquisition d'images de l'AFM.  De cette manière, la tâche de manipulation et d'imagerie en parallèle sous AFM a été optimisée et de nombreuses applications sont maintenant envisagées.

 

Mot clés:  Microscope à Force Atomique, Micro/Nanomanipulation, Nanocaractérisation, Oscillateurs en Quartz, AFM à haute vitesse, manipulation et imagerie en parallèle sous AFM.